ВЫБОР МОДИФИЦИРОВАННОГО КОДА С СУММИРОВАНИЕМ ЕДИНИЧНЫХ ИНФОРМАЦИОННЫХ РАЗРЯДОВ ДЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ С ИЗВЕСТНОЙ ТОПОЛОГИЕЙ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Коды с суммированием с небольшим количеством разрядов в контрольных векторах часто используются при организации систем технического диагностирования логических устройств. Одним из перспективных кодов является код с суммированием единичных информационных разрядов, принципы построения которого базируются на основе использования специального поправочного коэффициента в виде суммы по модулю два заранее установленных разрядов информационного вектора и на вычислении наименьшего неотрицательного вычета информационного вектора по модулю М=2^(]Log2(m+1[-1) Данная работа восполняет пробел в исследованиях модифицированных кодов с суммированием единичных разрядов и посвящена изучению влияния выбора правил вычисления поправочного коэффициента на такие важные показатели, как обнаружение ошибок на выходах контролируемых схем и структурная избыточность систем диагностирования. В эксперименте с набором контрольных комбинационных схем анализируются характеристики модифицированных кодов с суммированием единичных информационных разрядов (модифицированных кодов Бергера). Показано, что выбор способа вычисления поправочного коэффициента при построении модифицированного кода Бергера имеет принципиальное значение и определяет различные по характеристикам системы диагностирования (как сложности технической реализации, так и обнаружения ошибок на выходах контролируемых схем). Для обоснованного выбора модифицированного кода с суммированием единичных разрядов разработаны алгоритмы, позволяющие максимизировать показатель обнаружения ошибок и минимизировать показатель сложности технической реализации системы диагностирования.

Ключевые слова:
diagnostics system, Berger code, modified code with summation of unit bits, error detection at the outputs of circuits, diagnostics system area, система диагностирования, код Бергера, модифицированный код с суммированием единичных разрядов, обнаружение ошибок на выходах схем, площадь системы диагностирования
Список литературы

1. Согомонян Е. С. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы / Е. С. Согомонян, Е. В. Слабаков. - М. : Радио и связь, 1989. - 208 с.

2. Pradhan D. K. Fault-Tolerant Computer System Design / D. K. Pradhan. - N. Y. : Prentice Hall, 1996. - 560 p.

3. Гессель М. Построение кодоразделительных самопаритетных комбинационных схем для самотестирования и функционального диагностирования / М. Гессель, Е. С. Согомонян // Автоматика и телемеханика. - 1996. - № 11. - С. 155-165.

4. Ubar R. Design and test technology for dependable systems-on-chip (premier reference Source) / R. Ubar, J. Raik, H.-T. Vierhaus. - Information science reference, Hershey - New York, IGI Global, 2011. - 578 p.

5. Аксенова Г. П. Локализация неисправного многовыходного блока в дискретном устройстве / Г. П. Аксенова // Автоматика и телемеханика. - 2015. - № 2. - С. 141-149.

6. Аксенова Г. П. Повышение разрешающей способности матричного метода локализации неисправностей / Г. П. Аксенова // Автоматика и телемеханика. - 2016. - № 8. - С. 159-166.

7. Останин С. А. Синтез отказоустойчивых последовательностных схем для неисправностей задержек путей / С. А. Останин, А. Ю. Матросова, И. Е. Кириенко, Е. А. Николаева // Известия высших учебных заведений. Физика. - 2016. - Т. 59. - № 8-2. - С. 76-78.

8. Kumar B. A Technique for low power, stuck-at fault diagnosable and reconfigurable scan architecture / B. Kumar, B. Nehru, B. Pandey, V. Singh, J. Tudu // Proceedings of 14th IEEE East-West design & Test symposium (EWDTS’2016), Yerevan, Armenia, October 14-17, 2016. - Рp. 517-520.

9. Ostanin S. A Fault-tolerant sequential circuit design for soft errors based on fault-secure circuit / S. Ostanin, A. Matrosova, N. Butorina, V. Lavrov // Proceedings of 14th IEEE East-West design & Test symposium (EWDTS`2016), Yerevan, Armenia, October 14-17, 2016. - Рp. 607-610.

10. Matrosova A. A Fault-tolerant sequential circuit design for SAFs and PDFs soft errors / A. Matrosova, S. Ostanin, I. Kirienko, E. Nikolaeva // 2016 IEEE 22nd International symposium on on-line testing and robust system design (IOLTS), 4-6 July 2016. - Рp. 1-2.

11. Пархоменко П. П. Основы технической диагностики (оптимизация алгоритмов диагностирования, аппаратурные средства) / П. П. Пархоменко, Е. С. Согомонян. - М. : Энергоатомиздат, 1981. - 320 с.

12. Сапожников Вал. В. Самопроверяемые дискретные устройства / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников. - СПб. : Энергоатомиздат, 1992. - 224 с.

13. Berger J. M. A Ne on Error detection codes for asymmetric channels / J. M. Berger // Information and control. - 1961. - Vol. 4. - Issue 1. - Pp. 68-73.

14. Dong H. Modified Berger codes for detection of unidirectional errors / H. Dong // IEEE transactions on computers. - Vol. C-33. - June 1984. - Pp. 572-575.

15. Parhami B. New Class of unidirectional error-detection codes / B. Parhami // Proceedings of IEEE International conference on computer design: VLSI in computers and processors, 14-16 October 1991 (ICCD‘9), Cambridge, MA. - Рp. 574-577.

16. Das D. Weight-based codes and their application to concurrent error detection of multilevel circuits / D. Das, N. A. Touba // Proc. of the 17th IEEE VLSI Test symposium, USA, CA, Dana Point, April 25-29, 1999. - Рp. 370-376.

17. Мехов В. Б. Контроль комбинационных схем на основе модифицированных кодов с суммированием / В. Б. Мехов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 2008. - № 8. - С. 153-165.

18. Ефанов Д. В. О свойствах кода с суммированием в схемах функционального контроля / Д. В. Ефанов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 2010. - № 6. - С. 155-162.

19. Гессель М. Исследование комбинационных самопроверяемых устройств с неза- висимыми и монотонно независимыми выходами / М. Гессель, А. А. Морозов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 1997. - № 2. - С. 180-193.

20. Morosow A. Self-checking combinational circuits with unidirectionally independent outputs / A. Morosow, Val. V. Sapozhnikov, Vl. V. Sapozhnikov, M. Goessel //VLSI design. - 1998. - Vol. 5. - Issue 4. - Pp. 333-345.

21. Matrosova A.Yu. Self-checking synchronous sequential circuit design for unidirectional error / A.Yu. Matrosova, S. A. Ostanin // Proceedings of the IEEE European test workshop (ETW’98), 27-29 May 1998, Sitges, Barcelona, Spain.

22. Matrosova A.Yu. Self-checking synchronous FSM Network design with low overhead / A.Yu. Matrosova, I. Levin, S. A. Ostanin // VLSI design. - 2000. - Vol. 11. - Issue 1. - Pp. 47-58.

23. Сапожников Вал. В. Модульные коды с суммированием в системах функционального контроля. II. Уменьшение структурной избыточности систем функционального контроля / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов, М. Р. Черепанова // Электронное моделирование. - 2016. - Т. 38. - № 3. - С. 47-61.

24. Блюдов А. А. Построение модифицированного кода Бергера с минимальным числом необнаруживаемых ошибок информационных разрядов / А. А. Блюдов, Д. В. Ефанов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Электронное моделирование. - 2012. - Т. 34. - № 6. - С. 17-29.

25. Блюдов А. А. Модифицированный код с суммированием для организации контроля комбинационных схем / А. А. Блюдов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 2012. - № 1. - С. 169-177.

26. Blyudov A. Properties of code with summation for logical circuit test organization / A. Blyudov, D. Efanov, Val. Sapozhnikov, Vl. Sapozhnikov // Proceedings of 10th IEEE East-West design & Test symposium (EWDTSʼ2012), Kharkov, Ukraine, September 14-17, 2012. - Pp. 114-117.

27. Блюдов А. А. Коды с суммированием для организации контроля комбинационных схем / А. А. Блюдов, Д. В. Ефанов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожни- ков // Автоматика и телемеханика. - 2013. - № 6. - С. 153-164.

28. Efanov D. On the problem of selection of code with summation for combinational circuit test organization / D. Efanov, Val. Sapozhnikov, Vl. Sapozhnikov, A. Blyu- dov // Proceedings of 11th IEEE East-West design & Test symposium (EWDTSʼ2013), Rostov-on-Don, Russia, September 27-30, 2013. - Pp. 261-266.

29. Блюдов А. А. О кодах с суммированием единичных разрядов в системах функционального контроля / А. А. Блюдов, Д. В. Ефанов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 2014. - № 8. - С. 131-145.

30. Сапожников Вал. В. Об использовании свойств кодов с суммированием по обнаружению монотонных ошибок в системах функционального контроля комбинационных схем / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. - 2014. - № 3. - С. 76-88.

31. Сапожников Вал. В. Применение кодов с суммированием при синтезе систем железнодорожной автоматики и телемеханики на программируемых логических интегральных схемах / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов // Автоматика на транспорте. - 2015. - Т. 1. - № 1. - С. 84-107.

32. Nicolaidis M. On-line testing for VLSI - А compendium of approaches / M. Nico- laidis, Y. Zorian // Journal of electronic testing: Theory and applications. - 1998. - N 12. - Pp. 7-20.

33. Mitra S. Which Concurrent Error Detection Scheme to Сhoose? / S. Mitra, E. J. Mc- Cluskey // Proceedings of International test conference, 2000, USA, Atlantic City, NJ, 3-5 October 2000. - Рp. 985-994.

34. Ефанов Д. В. Синтез генераторов тестеров модифицированных кодов Бергера на основе свойств линейных и простых симметричных функций / Д. В. Ефанов // Известия Петербургского университета путей сообщения. - 2014. - № 4. - С. 99-109.

35. Carter W. C. Self-checking error checker for two-rail coded data / W. C. Carter, K. A. Duke, P. R. Schneider // United States Patent office, filed July 25, 1968, ser. N 747,533, patented Jan. 26, 1971, N. Y. - 10 p.

36. Huches J. L. A. Design of totally self-checking comparators with an arbitrary number of inputs / J. L. A. Huches, E. J. McCluskey, D. J. Lu // IEEE Transactions on computers. - 1984. - Vol. C-33. - N 6. - Pp. 546-550.

37. Yang S. Logic synthesis and optimization benchmarks : User Guide : Version 3.0 / S. Yang // Microelectronics center of Nth Carolina (MCNC), 1991. - 88 p.

38. Collection of digital design benchmarks. - URL : http://ddd.fit.cvut.cz/prj/ Benchmarks.

39. Сапожников Вал. В. Классификация ошибок в информационных векторах систематических кодов / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов // Известия вузов. Приборостроение. - 2015. - Т. 58. - № 5. - С. 333-343.

Войти или Создать
* Забыли пароль?