ОБНАРУЖЕНИЕ ОПАСНЫХ ОШИБОК НА РАБОЧИХ ВЫХОДАХ КОМБИНАЦИОННЫХ ЛОГИЧЕСКИХ СХЕМ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В статье рассматривается задача анализа ошибок на рабочих выходах систем функционального контроля комбинационных логических схем, построенных по методу вычисления контрольных разрядов. В качестве основы систем функционального контроля, построенных по такому способу, используются разделимые помехоустойчивые коды. В работе дается расширенная классификация ошибок на рабочих выходах систем функционального контроля. Приводятся понятия защитных и опасных ошибок в информационных векторах кодовых слов. Представлены формулы расчета числа защитных и опасных ошибок в информационных векторах произвольных разделимых кодов, а также показатели обнаружения защитных и опасных ошибок в информационных векторах. Показаны примеры кодов с указанием их особенностей по обнаружению защитных и опасных ошибок в информационных векторах.

Ключевые слова:
система функционального контроля, рабочие выходы, разделимые коды, информационные векторы, ошибки в информационных векторах, классификация ошибок, защитная ошибка, опасная ошибка, обнаружение опасных ошибок
Список литературы

1. Надежность и эффективность в технике : справочник : в 10 т. Т. 9 : Техническая диагностика / Под ред. В. В. Клюева и П. П. Пархоменко. - М. : Машиностроение, 1987. - 352 с.

2. Системы управления движением поездов на перегонах : учебник для вузов ж.-д. транспорта : в 3 ч. Ч. 2 / В. М. Лисенков, П. Ф. Бестемьянов, В. Б. Леушин, А. В. Лисенков, А. Е. Ваньшин ; под ред. В. М. Лисенкова. - М. : ГОУ «Учебно-методический центр по образованию на железнодорожном транспорте, 2009. - 324 с.

3. Антоненко В. С. Анализ работоспособности автоматической локомотивной сигнализации числового кода / В. С. Антоненко, Ю. А. Кравцов, В. М. Сафро, А. Б. Чегуров // Известия Петербургского университета путей сообщения. - 2011. - № 1. - С. 101-113.

4. Горелик А. В. Методы анализа безопасности функционирования систем железнодорожной автоматики и телемеханики / А. В. Горелик, Н. А. Тарадин, И. А. Журавлев // Надежность. - 2011. - № 1. - С. 40-46.

5. Закревский А. Д. Логические основы проектирования дискретных устройств / А. Д. Закревский, Ю. В. Поттосин, Л. Д. Черемисинова. - М. : Физматлит, 2007. - 592 с.

6. Мозгалевский А. В. Техническая диагностика (непрерывные объекты) / А. В. Мозгалевский, Д. В. Гаскаров. - М. : Высшая школа, 1975. - 207 с.

7. Биргер И. А. Техническая диагностика / И. А. Биргер. - М. : Машиностроение, 1978. - 240 с.

8. Хаханов В. И. Техническая диагностика цифровых и микропроцессорных структур / В. И. Хаханов. - Киев : IЗМН, 1995. - 252 с.

9. Калявин В. П. Надежность и диагностика автомототранспортных средств / В. П. Калявин, Н. А. Давыдов. - СПб. : Элмор, 2014. - 480 с.

10. Рабочее диагностирование безопасных информационно-управляющих систем / А. В. Дрозд, В. С. Харченко, С. Г. Антощук и др. ; под ред. А. В. Дрозда и В. С. Хар- ченко. - Харьков : Национальный аэрокосмический университет им. Н. Е. Жуковского (ХАИ), 2012. - 614 с.

11. Wang L.-T. System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability / L.-T. Wang, C. E. Stroud, N.A. Touba. Morgan Kaufmann Publishers, 2008. - 856 p.

12. Пархоменко П. П. Основы технической диагностики (оптимизация алгоритмов диагностирования, аппаратурные средства) / П. П. Пархоменко, Е. С. Согомонян. - М. : Энергоатомиздат, 1981. - 320 с.

13. Согомонян Е. С. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы / Е. С. Согомонян, Е. В. Слабаков. - М. : Радио и связь, 1989. - 208 с.

14. Touba N. A. Logic Synthesis of Multilevel Circuits with Concurrent Error Detection / N. A. Touba, E. J. McCluskey // IEEE Trans. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and System. - Vol. 16. - Jul. 1997. - Pp. 783-789.

15. Nicolaidis M. On-Line Testing for VLSI - А Compendium of Approaches / M. Nicolaidis, Y. Zorian // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. - 1998. - Issue 12. - Pp. 7-20.

16. Сапожников Вал. В. Самопроверяемые дискретные устройства / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников. - СПб. : Энергоатомиздат, 1992. - 224 с.

17. Piestrak S. J. Design of Self-Testing Checkers for Unidirectional Error Detecting Codes / S. J. Piestrak. - Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocłavskiej, 1995. - 111 p.

18. Lala P. K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design / P. K. Lala. - University of Arkansas, 2001. - 216 p.

19. Butorina N. Self-Testing Checker Design for Incomplete m-out-of-n Codes / N. Butorina // Proceedings of 12th IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS`2014), Kyev, Ukraine. September 26-29, 2014. - Pp. 258-261.

20. Fujiwara E. Code Design for Dependable Systems: Theory and Practical Applications / E. Fujiwara. - New Jersey, John Wiley & Sons, 2006. - 720 p.

21. Jha N. K. Totally Self-Checking Checker Designs for Bose-Lin, Bose and Blaum Codes / N. K. Jha // IEEE Trans, Computer-Aided Design. - Vol. CAD-10. - February 1991. - Pp. 136-143.

22. Berger J. M. А Note on Error Detecting Codes for Asymmetric Channels / J. M. Berger // Information and Control. - 1961. - Vol. 4. - Issue 1. - Pp. 68-73.

23. Hamming R. W. Error Detecting and Correcting Codes / R. W. Hamming // Bell System Technical Journal. - 1950. - 29 (2). - Pp. 147-160.

24. Sapozhnikov Val. Analysis of Error-Detection Possibilities of CED Circuits Based on Hamming and Berger Codes / Val. Sapozhnikov, Vl. Sapozhnikov, D. Efanov, A. Blyu- dov // Proceedings of 11th IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS`2013), Rostov-on-Don, Russia, September 27-30, 2013. - Pp. 200-207.

25. Ефанов Д. В. Предельные свойства кода Хэмминга в схемах функционального диагностирования / Д. В. Ефанов // Информатика и системы управления. - 2011. - № 3. - С. 70-79.

26. Ефанов Д. В. Три теоремы о кодах Бергера в схемах встроенного контроля / Д. В. Ефанов // Информатика и системы управления. - 2013. - № 1. - С. 77-86.

27. Сапожников Вал. В. Применение кодов Бергера и Хэмминга в схемах функционального контроля / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов, А. А. Блюдов // Известия Петербургского университета путей сообщения. - 2013. - № 2. - С. 168-182.

28. Гавзов Д. В. Методы обеспечения безопасности дискретных систем / Д. В. Гавзов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 1994. - № 8. - С. 3-50.

29. Сапожников Вал. В. Классификация ошибок в информационных векторах систематических кодов / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов // Известия вузов. Приборостроение. - 2015. - Т. 58, № 5. - С. 333-343.

30. Ефанов Д. В. О свойствах кода с суммированием в схемах функционального контроля / Д. В. Ефанов, Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников // Автоматика и телемеханика. - 2010. - № 6. - С. 155-162.

31. Сапожников Вал. В. Предельные свойства кода с суммированием / Вал. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов // Известия Петербургского университета путей сообщения. - 2010. - № 3. - С. 290-299.

32. Busaba F. Y. Self-Checking Combinational Circuit Design for Single and Unidirectional Multibit Errors / F. Y. Busaba, P. K. Lala // Journal of Electronic Testing : Theory and Applications. - 1994. - Issue 5. - Pp. 19-28.

33. Morosow A. Self-Checking Combinational Circuits with Unidirectionally Independent Outputs / A. Morosow, Val. V. Saposhnikov, Vl. V. Saposhnikov, M. Goessel // VLSI Design. - 1998. - Vol. 5. - Issue 4. - Pp. 333-345.

34. Bose B. Systematic Unidirectional Error-Detection Codes / B. Bose, D. J. Lin // Pro- ceedings of IEEE Trans. Comput. - 1985. - Vol. C-34, November. - Pp. 1026-1032.

35. Das D. Synthesis of Circuits with Low-Cost Concurrent Error Detection Based on Bose-Lin Codes / D. Das, N. A. Touba // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. - 1999. - Vol. 15. - Issue 1-2. - Pp. 145-155.

36. Sapozhnikov Val. On the Synthesis of Unidirectional Combinational Circuits Detecting All Single Faults / Val. Sapozhnikov, Vl. Sapozhnikov, D. Efanov, A. Blyudov // Proceedings of 12th IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS`2014), Kyev, Ukraine. September 26-29. - 2014. - Pp. 116-125.

37. Yang S. Logic Synthesis and Optimization Benchmarks User guide: Version 3.0, Technical report Microelectronics Center of North Carolina, P. O. Box 12889 / S. Yang // Research Triangle Park, NC 27709. - January 15. - 1991. - 44 p.

38. Benchmarks: LGSynth89. - URL : http://www.cbl.ncsu.edu:16080/benchmarks/ LGSynth89/mlexamples.

39. Gopalakrishan P. Direct Transistor-Level Layout for Digital Blocks / P. Gopalakrishan, R. A. Rutenbar. - Boston : Kluwer Academic Pubishers, 2004. - 125 p.

Войти или Создать
* Забыли пароль?