1. Стемпковский А. Л. Методы проектирования помехозащищенных комбинационных КМОП-схем, обеспечивающие автоматическое исправление ошибок / А. Л. Стемпковский, С. В. Гаврилов, С. И. Гуров и др. // Информационные технологии. - 2017. - Т. 23. - № 10. - С. 728-735.
2. Бестемьянов П. Ф. Методы обеспечения безопасности аппаратных средств микропроцессорных систем управления движением поездов / П. Ф. Бестемьянов // Электротехника. - 2020. - № 9. - С. 2-8.
3. Тельпухов Д. В. Алгоритм логического синтеза сбоеустойчивых схем в технологическом базисе / Д. В. Тельпухов, В. В. Надоленко // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2021. - № 4. - С. 52-58. - DOI:https://doi.org/10.31114/2078-7707-2021-4-52-58.
4. Lala P. K. An Introduction to Logic Circuit Testing / P. K. Lala. - Morgan & Claypool, Texas A&M University-Texarkana, 2009. - 99 p. - DOI:https://doi.org/10.2200/S00149ED1V01Y200808DCS017.
5. Дрозд А. В. Рабочее диагностирование безопасных информационно-управляющих систем / А. В. Дрозд, В. С. Харченко, С. Г. Антощук и др.; под ред. А. В. Дрозда и В. С. Харченко. - Харьков: Национальный аэрокосмический университет им. Н. Е. Жуковского «ХАИ», 2012. - 614 с.
6. Dubrova E. Fault-Tolerant Design / E. Dubrova. - Springer Science + Business Media New York 2013, 2013, XV + 185 p. - DOI:https://doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9.
7. Ярмолик В. Н. Контроль и диагностика вычислительных систем / В. Н. Ярмолик. - Минск: Бестпринт, 2019. - 387 с.
8. Согомонян Е. С. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы / Е. С. Согомонян, Е. В. Слабаков. - М.: Радио и связь, 1989. - 208 с.
9. Сапожников В. В. Основы теории надежности и технической диагностики / В. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Д. В. Ефанов. - СПб.: Лань, 2019. - 588 с.
10. Lala P. K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design / P. K. Lala. - San Francisco: Morgan Kaufmann Publishers, 2001. - 216 p.
11. Göessel M. New Methods of Concurrent Checking: Edition 1 / M. Göessel, V. Ocheretny, E. Sogomonyan et al. - Dordrecht: Springer Science + Business Media B. V., 2008. - 184 p.
12. Reynolds D. Optimal NOR Networks for Self-Dual Functions of Four Variables / D. Reyn-olds, G. Metze. - Technical Report, Illinois University, Urbana-Champaign, Coordinated Science Lab., May 1976, 19 p.
13. Reynolds D. A. The Design of Alternating Logic Systems with Fault Detection Capabilities / D. A. Reynolds. - M. S. Thesis Illinois University, Urbana-Champaign, Coordinated Sci-ence Lab., August 1976.
14. Reynolds D. A. Fault Detection Capabilities of Alternating Logic / D. A. Reynolds, G. Meize // IEEE Transactions on Computers. - 1978. - Vol. C-27. - Iss. 12. - Pp. 1093-1098. - DOI:https://doi.org/10.1109/TC.1978.1675011.
15. Biernat J. Self-Dual Modules in Design of Dependable Digital Devices / J. Biernat // Interna-tional Conference on Dependability of Computer Systems, 25-27 May 2006, Szklarska Poreba, Poland. - DOI:https://doi.org/10.1109/DEPCOS-RELCOMEX.2006.50.
16. Rai S. DiSCERN: Distilling Standard-Cells for Emerging Reconfigurable Nanotechnologies / S. Rai, M. Raitza, S. S. Sahoo et al. // Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 09-13 March 2020, Grenoble, France. - DOI:https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116216.
17. Аксенова Г. П. Восстановление в дублированных устройствах методом инвертирования данных / Г. П. Аксенова // Автоматика и телемеханика. - 1987. - № 10. - С. 144-153.
18. Saposhnikov Vl. V. Self-Dual Parity Checking - a New Method for on Line Testing / Vl. V. Saposhnikov, A. Dmitriev, M. Goessel et al. // Proceedings of 14th IEEE VLSI Test Symposium, USA, Princeton, 1996. - Pp. 162-168.
19. Гессель М. Самотестируемая структура для функционального обнаружения отказов в комбинационных схемах / М. Гессель, А. В. Дмитриев, В. В. Сапожников и др. // Автоматика и телемеханика. - 1999. - № 11. - С. 162-174.
20. Saposhnikov Vl. V. Experimental Results for Self-Dual Multi-Output Combinational Circuits / Vl. V. Saposhnikov, V. Moshanin, V. V. Saposhnikov et al. // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. - 1999. - Vol. 14. - Iss. 3. - Pp. 295-300. - DOI:https://doi.org/10.1023/A:1008370405607.
21. Гессель М. Обнаружение неисправностей в комбинационных схемах с помощью самодвойственного контроля / М. Гессель, А. В. Дмитриев, В. В. Сапожников и др. // Автоматика и телемеханика. - 2000. - № 7. - С. 140-149.
22. Сапожников В. В. О синтезе самодвойственных логических схем с памятью / В. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Р. Ш. Валиев // Электронное моделирование. - 2004. - Т. 26. - № 2. - С. 39-56.
23. Сапожников В. В. Самодвойственные дискретные устройства / В. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, М. Гессель. - СПб.: Энергоатомиздат (Санкт-Петербургское отделение), 2001. - 331 с.
24. Сапожников В. В. Синтез самодвойственных дискретных систем / В. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников, Р. Ш. Валиев. - СПб.: Элмор, 2006. - 220 с.
25. Ефанов Д. В. Обнаружение неисправностей в комбинационных схемах на основе самодвойственного дополнения до равновесных кодов / Д. В. Ефанов, В. В. Сапожников, Вл. В. Сапожников и др. // Труды Института системного программирования РАН. - 2019. - Т. 31. - № 1. - С. 115-132. - DOI:https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2019-31(1)-8.
26. Efanov D. Self-Dual Complement Method up to Constant-Weight Codes for Arrangement of Combinational Logical Circuits Concurrent Error-Detection Systems / D. Efanov, V. Sapozhnikov, Vl. Sapozhnikov et al. // Proceedings of 17th IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2019), Batumi, Georgia, September 13-16, 2019, pp. 136-143. - DOI:https://doi.org/10.1109/EWDTS.2019.8884398.
27. Ефанов Д. В. Самодвойственный контроль комбинационных схем с применением кодов Хэмминга / Д. В. Ефанов, Т. С. Погодина // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2022. - № 3. - С. 113-122. - DOI:https://doi.org/10.31114/2078-7707-2022-3-113-122.
28. Efanov D. V. Self-Dual Digital Devices with Calculations Testing by Modified Hamming Code / D. V. Efanov, T. S. Pogodina // IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus), 24-27 January 2023, St. Petersburg, Russia. - Pp. 72-77.
29. Ефанов Д. В. Построение самопроверяемых цифровых устройств на основе модифицированных кодов Хэмминга с контролем самодвойственности вычисляемых функций / Д. В. Ефанов, Т. С. Погодина // Автоматика на транспорте. - 2023. - Т. 9. - № 1. - С. 99-123. - DOI:https://doi.org/10.20295/2412-9186-2023-9-01-99-123.
30. Ефанов Д. В. Исследование свойств самодвойственных комбинационных устройств с контролем вычислений на основе кодов Хэмминга / Д. В. Ефанов, Т. С. Погодина // Информатика и автоматизация. - 2023. - Т. 22. - № 2. - C. 349-392. - DOI:https://doi.org/10.15622/ia.22.2.5.
31. Chen Y. The Circuit Design of Voltage-controlled Color Changing Lamp Based on Multisim / Y. Chen, M. Zhang, J. Hao // 2020 IEEE International Conference on Power, Intelligent Computing and Systems (ICPICS), 28-30 July 2020, Shenyang, China. - DOI:https://doi.org/10.1109/ICPICS50287.2020.9202148.
32. Пархоменко П. П. Основы технической диагностики (оптимизация алгоритмов диагностирования, аппаратурные средства) / П. П. Пархоменко, Е. С. Согомонян. - М.: Энергоатомиздат, 1981. - 320 с.
33. Микони С. В. Общие диагностические базы знаний вычислительных систем / С. В. Микони. - СПб.: Санкт-Петербургский институт информатики и автоматизации, 1992. - 234 с.